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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:New XAFS Technique Monitoring Weak V K alpha1 at 4952.2 eV in the Predominant Ti K beta1,3 at 4931.8 eV Applied to Industrial V-TiO2 Catalysts 
著者
和文: 秋鹿研一.  
英文: KEN-ICHI AIKA.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Program and Abstracts of XAFS-12, Malmoe, Sweden 
巻, 号, ページ         pp. 95
出版年月 2003年 
出版者
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会議名称
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開催地
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