Electron Trapping, Storing and Emission in nanocrystalline Si dots by Capacitance-Voltage Measurements

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Electron Trapping, Storing and Emission in nanocrystalline Si dots by Capacitance-Voltage Measurements

著者

和文:	Shaoyun Huang, Souri Banerjee, Raymond T.Tung, Shunri Oda.
英文:	Shaoyun Huang, Souri Banerjee, Raymond T.Tung, Shunri Oda.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

Vol. 93(1) pp. 576-581

出版年月

2003年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
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開催地

和文:
英文: