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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Conducting-tip Atomic Force Microscopy for Injection and Probing of Localized Charges in Silicon Nanocrystals 
著者
和文: S. Banerjee, M. A. Salem, S. Oda.  
英文: S. Banerjee, M. A. Salem, S. Oda.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Applied Physics Letters 
巻, 号, ページ Vol. 83 (18)        pp. 3788-3790
出版年月 2003年 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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英文: 

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