X線回折逆格子空間マッピング法によるY2O3-ZrO2薄膜の結晶構造解析

論文・著書情報

タイトル

和文:	X線回折逆格子空間マッピング法によるY2O3-ZrO2薄膜の結晶構造解析
英文:	Structural characterization of Y2O3-ZrO2 thin films by X-ray diffraction reciprocal space mapping

著者

和文:	尾上通, 木口賢紀, 佐伯淳, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭, 瀬尾公一.
英文:	尾上通, 木口賢紀, 佐伯淳, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭, 瀬尾公一.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	第２０回日本セラミックス協会関東支部研究発表会予稿集
英文:	Abstract book of the 20th Ceramic Research Conference of Kanto Branch

巻, 号, ページ

No. 1A15 pp. 15

出版年月

2004年7月

出版者

和文:	第２０回日本セラミックス協会関東支部研究発表会予稿集
英文:	Abstract book of the 20th Ceramic Research Conference of Kanto Branch

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:	埼玉
英文: