Reduced defect densities in the ZnO epilayer grown on Si substrates by laser-assisted molecular-beam epitaxy using a ZnS

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Reduced defect densities in the ZnO epilayer grown on Si substrates by laser-assisted molecular-beam epitaxy using a ZnS

著者

和文:	T. Onuma, S. F. Chichibu, A. Uedono, Y.-Z. Yoo, T. Chikyow, T. Sota, M. Kawasaki, H. Koinuma.
英文:	T. Onuma, S. F. Chichibu, A. Uedono, Y.-Z. Yoo, T. Chikyow, T. Sota, M. Kawasaki, H. Koinuma.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Appl. Phys. Lett.

巻, 号, ページ

Vol. 85 pp. 5586-5588

出版年月

2004年

出版者

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会議名称

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開催地

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