Characterization of Metal-Ferroelectric-Metal Insulator-Semiconductor(MFMIS) FETs Using (Sr,Sm)0.8Bi2.2O9(SSBT) Thin Films

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization of Metal-Ferroelectric-Metal Insulator-Semiconductor(MFMIS) FETs Using (Sr,Sm)0.8Bi2.2O9(SSBT) Thin Films

著者

和文:	斎木博和, 徳光永輔.
英文:	Hirokazu Saiki, Eisuke Tokumitsu.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Materials Research Society Symp. Proc.

巻, 号, ページ

Vol. 784 pp. 485-490

出版年月

2004年7月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Materials Research Society Symp.

開催地

和文:
英文: