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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Characterization of Read-Out Drain Current Degradation in Ferroelectric-Gate Transistors 
著者
和文: 徳光 永輔, 斎木 博和.  
英文: Eisuke Tokumitsu, Hirokazu Saiki.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ         pp. 1-143P
出版年月 2007年5月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:19th International Symposium of Intergrated Ferroelectrics(ISIF2007) 
開催地
和文: 
英文:Bordeaux, France 

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