Mechanism of DC-Bias Degradation in X7R-MLCCs

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Mechanism of DC-Bias Degradation in X7R-MLCCs

著者

和文:	T. TSURUMI, M. SHONO, H. KAKEMOTO S. WADA, K. SAITO, H. CHAZONO.
英文:	T. TSURUMI, M. SHONO, H. KAKEMOTO S. WADA, K. SAITO, H. CHAZONO.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	the Proceedings of Fundamental Physics of Ferroelectrics 2005

巻, 号, ページ

pp. 137-138

出版年月

2005年2月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Fundamental Physics of Ferroelectrics 2005

開催地

和文:
英文: