Characterization of (Bi,Nd)4Ti3O12/HfO2/p-type Si structures for MFIS-FeRAM application

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization of (Bi,Nd)₄Ti₃O₁₂/HfO₂/p-type Si structures for MFIS-FeRAM application

著者

和文:	Y.Tabuchi, K.Aizawa, T.Tamura, K.Takahashi, H.Hoko, K.Kato, Y.Arimoto, H.Ishiwara.
英文:	Y.Tabuchi, K.Aizawa, T.Tamura, K.Takahashi, H.Hoko, K.Kato, Y.Arimoto, H.Ishiwara.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Integrated Ferroelectrics

巻, 号, ページ

Vol. 79 pp. 211-218

出版年月

2006年

出版者

和文:
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会議名称

和文:
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開催地

和文:
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DOI