Method to Measure Aberrations from Ronchigram by Auto-Correlation Function

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Method to Measure Aberrations from Ronchigram by Auto-Correlation Function

著者

和文:	H.Sawada, T.Sannomiya, F.Hosokawa, T.Kaneyama, Y.Kondo, Y.Tanishiro, K.Takayanagi.
英文:	H.Sawada, T.Sannomiya, F.Hosokawa, T.Kaneyama, Y.Kondo, Y.Tanishiro, K.Takayanagi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proc. 16th Int. Microsc. Cong.

巻, 号, ページ

pp. 1818

出版年月

2006年9月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	The 16th International Microscopy Congress

開催地

和文:
英文:	Sapporo