Analysis of hole trapping into pentacene FET by Optical Second Harmonic Generation and C-V measurements

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Analysis of hole trapping into pentacene FET by Optical Second Harmonic Generation and C-V measurements

著者

和文:	Lim Eun, 間中孝彰, 田村亮祐, 岩本光正.
英文:	Eunju Lim, Takaaki Manaka, Ryosuke Tamura, Mitsumasa Iwamoto.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

pp. 914-915

出版年月

2006年9月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2006 International Conference on Solid State Device and Materials (SSDM 2006)

開催地

和文:
英文:	Yokohama