Effective mobility and interface-state density of La<sub>2</sub>O<sub>3</sub> nMISFETs after post deposition annealing

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Effective mobility and interface-state density of La₂O₃ nMISFETs after post deposition annealing

著者

和文:	Jin-Aun Ng, Nobuyuki Sugii, Kuniyuki Kakushima, Parhat Ahmet, Kazuo Tsutsui, Takeo Hattori, Hiroshi Iwai.
英文:	Jin-Aun Ng, Nobuyuki Sugii, Kuniyuki Kakushima, Parhat Ahmet, Kazuo Tsutsui, Takeo Hattori, Hiroshi Iwai.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEICE Electronics Express

巻, 号, ページ

Vol. 3 No. 13 pp. 316-321

出版年月

2006年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
英文: