Dielectric imaging of Dielectric Devices using Non-contact State Microwave Probe and FT Image Refinement

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Dielectric imaging of Dielectric Devices using Non-contact State Microwave Probe and FT Image Refinement

著者

和文:	H.Kakemoto, J.Li, T.Harigai, S-M.Nam, S.Wada, T.Tsurumi.
英文:	H.Kakemoto, J.Li, T.Harigai, S-M.Nam, S.Wada, T.Tsurumi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	ISAF2007

巻, 号, ページ

Vol. 1 No. 1 pp. 3

出版年月

2007年5月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	ISAF2007

開催地

和文:
英文: