Examination of the Universality of Hole Mobility in Strained-Si p-MOSFETs

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Examination of the Universality of Hole Mobility in Strained-Si p-MOSFETs

著者

和文:	S.Takagi, K.Takeda, S.Sugahara, T.Numata.
英文:	S.Takagi, K.Takeda, S.Sugahara, T.Numata.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

pp. paper B-2-1, pp.38-39

出版年月

2005年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2005 Intl. Conf. on Solid State Devices and Materials (SSDM2005), Kobe, Japan,

開催地

和文:
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