Single Electron Counting on Single Nanodot due to Coulomb Blockade by nc-AFM

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Single Electron Counting on Single Nanodot due to Coulomb Blockade by nc-AFM

著者

和文:	東　康男, 真島　豊.
英文:	Yasuo Azuma, Yutaka Majima.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

pp. 13

出版年月

2005年7月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy / Spectroscopy and Related Techniques in conjunction with 13th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (STM2005)

開催地

和文:
英文:	北海道札幌市