電気特性測定機構を組み込んだ高温X 線回折装置によるPb(Zr,Ti)O3薄膜の相転移と電気的特性 のその場観察

論文・著書情報

タイトル

和文:	電気特性測定機構を組み込んだ高温X 線回折装置によるPb(Zr,Ti)O3薄膜の相転移と電気的特性のその場観察
英文:	In-situ Simultaneous Observation of Phase Transition and Electrical Properties of Pb(Zr,Ti)O3 Thin Film by High Temperature XRD and Electrical Measurement Apparatus

著者

和文:	尾上通, 脇谷尚樹, 瀬尾公一, 木口賢紀, 水谷惟恭, 篠崎和夫.
英文:	Toru Onoue, Naoki Wakiya, Kohichi Seo, Takanori Kiguchi, Nobuyasu Mizutani, Kazuo Shinozaki.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	日本セラミックス協会　第25 回エレクトロセラミックス研究討論会講演予稿集
英文:	Extended abstracts the 25th Electronics Division Meeting of the Ceramic Society of Japan

巻, 号, ページ

No. 1B03 pp. 17

出版年月

2005年10月

出版者

和文:
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会議名称

和文:	日本セラミックス協会　第25 回エレクトロセラミックス研究討論会
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開催地

和文:	大岡山
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