高分解能分析電子顕微鏡による二酸化セリウム/イットリア安定化ジルコニア/シリコンヘテロ界面構造の原子スケール構造評価

論文・著書情報

タイトル

和文:	高分解能分析電子顕微鏡による二酸化セリウム/イットリア安定化ジルコニア/シリコンヘテロ界面構造の原子スケール構造評価
英文:	Atomic-scale structure investigation of CeO2/YSZ/Si hetero-interface by high resolution analytical electron microscope

著者

和文:	木口賢紀, 脇谷尚樹, 水谷惟恭, 篠崎和夫.
英文:	Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Nobuyasu Mizutani, Kazuo Shinozaki.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	分析化学
英文:	Bunseki Kagaku

巻, 号, ページ

Vol. 55 No. 06 pp. 419-426

出版年月

2006年6月

出版者

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会議名称

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開催地

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