Detection of Trace Amount of Impurity in Smectic Liquid- crystalline Semiconductor

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Detection of Trace Amount of Impurity in Smectic Liquid- crystalline Semiconductor

著者

和文:	Hyoso Ahn, Akira Ohno, Jun-ichi Hanna.
英文:	Hyoso Ahn, Akira Ohno, Jun-ichi Hanna.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proc. SPIE

巻, 号, ページ

pp. 594014-1-594014-9

出版年月

2005年8月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	SPIE Optics and Photonics

開催地

和文:
英文:	San Diego., USA