A development for dielectric measurement using non-contact state microwave probe

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	A development for dielectric measurement using non-contact state microwave probe

著者

和文:	H. Kakemoto, S-M. Nam, J. Li, T. Harigai, S. Wada, T. Tsurumi.
英文:	H. Kakemoto, S-M. Nam, J. Li, T. Harigai, S. Wada, T. Tsurumi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	2006 International Conference on Micro/Nano Fabrication Technologies ICM/NFT'06 Abstract Book (May 11, Thailand)

巻, 号, ページ

Vol. 1 pp. 26

出版年月

2006年5月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2006 International Conference on Micro/Nano Fabrication Technologies

開催地

和文:
英文:	Thailand