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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Spatial Resolution and Measurement Accuracy of Dielectric Microscope Using Non-contact State Microwave Probe 
著者
和文: H.Kakemoto, J.Li, S-M.Nam, T.Harigai, S.Wada, T.Tsurumi.  
英文: H.Kakemoto, J.Li, S-M.Nam, T.Harigai, S.Wada, T.Tsurumi.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:International Symposium on Application of Ferroelectrics (USA) 
巻, 号, ページ Vol. 1    No. 0    pp. 335
出版年月 2006年7月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:International Symposium on Applications of Ferroelectrics (USA) 
開催地
和文: 
英文:USA 
DOI https://doi.org/10.1109/ISAF.2006.4387886

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