Interpretation of DNA adsorption on silanized surfaces by measuring force-distance curves on them at various pHs using atomic force microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Interpretation of DNA adsorption on silanized surfaces by measuring force-distance curves on them at various pHs using atomic force microscopy

著者

和文:	韓盛弼, S. Yoda, K. J. Kwak, 菅耕作, 藤平正道.
英文:	S. P. Han, S. Yoda, K. J. Kwak, K. Suga, M. Fujihira.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Ultramicroscopy

巻, 号, ページ

Vol. 105 p. 148-154

出版年月

2005年6月

出版者

和文:
英文:	Elsevier

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

DOI