斜入射小角X線散乱による多孔高分子薄膜の解析 | T2R2 東京科学大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	斜入射小角X線散乱による多孔高分子薄膜の解析
英文:

著者

和文:	横山英明, Dutriez Cedric, Li Lei, 根本太一, 杉山賢次, 佐々木園, 増永啓康, 高田昌樹, 奥田浩司.
英文:	横山英明, Dutriez Cedric, Li Lei, 根本太一, KENJI SUGIYAMA, 佐々木園, 増永啓康, 高田昌樹, 奥田浩司.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	第56回高分子討論会予稿集
英文:

巻, 号, ページ

Vol. CD-ROM

出版年月

2007年9月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:	第56回高分子討論会
英文:

開催地

和文:	名古屋工業大学
英文:

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