Scaling Trend of Analog Integrated Circuit with Process Variations on Future Ultra Deep Submicron CMOS Technology

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Scaling Trend of Analog Integrated Circuit with Process Variations on Future Ultra Deep Submicron CMOS Technology

著者

和文:	大下隆生, 筒井一生, 石原昇, 益一哉.
英文:	Takao Oshita, Kazuo Tsutsui, Noboru Ishihara, Kazuya Masu.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)

巻, 号, ページ

D-2-2 pp. 83-84

出版年月

2008年9月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)

開催地

和文:
英文:	Tukuba, Japan