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論文・著書情報


タイトル
和文:顕微時間分解SHG測定による強誘電性ゲート絶縁膜を用いたペンタセンFETの評価 
英文: 
著者
和文: 田村亮祐, 吉田周平, LimEun, 間中孝彰, 岩本光正.  
英文: Ryosuke Tamura, Shuhei Yoshita, Eun Ju Lim, Takaaki Manaka, MITSUMASA IWAMOTO.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ         pp. 1189
出版年月 2008年9月 
出版者
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会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文:名古屋 中部大学 

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