Trap Density Effect on Carrier Propagation in Organic Field-Effect Transistors Investigated by Transient Methods

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Trap Density Effect on Carrier Propagation in Organic Field-Effect Transistors Investigated by Transient Methods

著者

和文:	LIN JACK, Weis Martin, 田口大, 間中孝彰, 岩本光正.
英文:	Jack Lin, Martin Weis, Dai Taguchi, Takaaki Manaka, MITSUMASA IWAMOTO.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2009年3月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	M&BE5 2009

開催地

和文:
英文:	Miyazaki International Conference Hall in Phoenix Seagaia Resort

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