Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Interfacial defects in Ti-Nb shape memory alloys 
著者
和文: C. Y. Chai, Y. W. Kim, 細田 秀樹, S. Miyazaki.  
英文: C. Y. Chai, Y. W. Kim, H. Hosoda, S. Miyazaki.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Acta MAteialia 
巻, 号, ページ Vol. 56        3088-3097
出版年月 2009年3月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1016/j.actamat.2008.02.045

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.