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論文・著書情報


タイトル
和文:ミリ波CMOS回路設計のための測定評価技術 
英文: 
著者
和文: 伊藤彰吾, 李寧, 高山直輝, 松下幸太, 岡田健一, 松澤昭.  
英文: Shogo Ito, Ning Li, Naoki Takayama, Kota Matsushita, Kenichi Okada, Akira Matsuzawa.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2008年12月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:電子情報通信学会シリコンアナログRF研究会 
英文: 
開催地
和文:鹿児島 
英文: 

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