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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Parameter Randomness Analysis of Multiple Tunnel Junctions 
著者
和文: Aditi Goyal, Muhammad A Rafiq, 内田 建, 小田 俊理.  
英文: Aditi Goyal, Muhammad A Rafiq, Ken Uchida, Shunri Oda.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2009年6月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop 
開催地
和文:京都 
英文:Kyoto 

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