Bilayer gate dielectric study by scanning tunneling microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Bilayer gate dielectric study by scanning tunneling microscopy

著者

和文:	Y.C. Ong, D.S. Ang, K.L. Pey, S.J. O'Shea, K.E.J. Goh, C. Troadec, C.H. Thung, 川那子高暢, 角嶋邦之, 岩井洋.
英文:	Y.C. Ong, D.S. Ang, K.L. Pey, S.J. O'Shea, K.E.J. Goh, C. Troadec, C.H. Thung, Takamasa Kawanago, Kuniyuki KAKUSHIMA, HIROSHI IWAI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	APPLIED PHYSICS LETTERS

巻, 号, ページ

Vol. 91 pp. 102905,

出版年月

2007年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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DOI