Subthreshold parameters of radio-frequency multi-finger nanometer MOS transistors

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Subthreshold parameters of radio-frequency multi-finger nanometer MOS transistors

著者

和文:	S.-L. Siu, H. Wong, W.-S. Tam, 角嶋邦之, 岩井洋.
英文:	S.-L. Siu, H. Wong, W.-S. Tam, Kuniyuki KAKUSHIMA, HIROSHI IWAI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Microelectronics Reliability

巻, 号, ページ

Vol. 49 pp. 387391

出版年月

2009年

出版者

和文:
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会議名称

和文:
英文:

開催地

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DOI