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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Evaluation of MQW wafer for surface emitting laser by x-ray diffraction 
著者
和文: H. Onda, H, 植之原 裕行, 小山 二三夫, 伊賀 健一.  
英文: H. Onda, H, . Uenohara, F. Koyama, K. Iga.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Jpn. J. Appl. Phys. 
巻, 号, ページ vol. 27    no. 3    pp. 438-439
出版年月 1988年3月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1143/JJAP.27.438

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