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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Electric Resistivity Measurements of Sb2Te3 and Ge2Sb2Te5 Melts Using Four-Terminal Method 
著者
和文: 遠藤 理恵, 前田 晋平, 神内 悠里, Lan Rui, 桑原 正史, 小林 能直, 須佐 匡裕.  
英文: Rie Endo, Shinpei Maeda, Yuri Jinnai, Rui LAN, Masashi Kuwahara, Yoshinao Kobayashi, Masahiro Susa.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Japanese Journal of Applied Physics(JJAP) 
巻, 号, ページ Vol. 49        pp. 065802-1-7
出版年月 2010年6月 
出版者
和文:日本応用物理学会 
英文:The Japan Society of Applied Physics 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1143/JJAP.49.065802

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