Effect of Carrier Trap on the Electron Transport in Pentacene FET Observed by the Time-resolved Microscopic SHG Measurement

論文・著書情報

タイトル

和文:	Effect of Carrier Trap on the Electron Transport in Pentacene FET Observed by the Time-resolved Microscopic SHG Measurement
英文:	Effect of Carrier Trap on the Electron Transport in Pentacene FET Observed by the Time-resolved Microscopic SHG Measurement

著者

和文:	間中孝彰, F. Liu, 中尾元春, Weis Martin, 岩本光正.
英文:	T. Manaka, F. Liu, M. Nakao, W. Martin, M. Iwamoto.

言語

Japanese

掲載誌/書名

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巻, 号, ページ

出版年月

2010年10月

出版者

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会議名称

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英文:	2009 International Conference on Solid State Device and Materials (SSDM 2009)

開催地

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