Fabrication and Characterization of a Ferroelectric-Gate FET with a ITO/PZT/SRO/Pt Stacked Structure”, ,

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Fabrication and Characterization of a Ferroelectric-Gate FET with a ITO/PZT/SRO/Pt Stacked Structure”, ,

著者

和文:	Phan Tue, Bui Trinh, 宮迫毅明, 徳光永輔, 下田達也.
英文:	Phan Tue, Bui Trinh, Takaaki Miyasako, Eisuke Tokumitsu, Tatsuya Shimoda.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2010年12月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	22nd International Conference on Microelectronics (ICM 2010)

開催地

和文:
英文:	Cairo