デバイスモデルを用いた並列接続pinダイオードのリカバリー特性解析

論文・著書情報

タイトル

和文:	デバイスモデルを用いた並列接続pinダイオードのリカバリー特性解析
英文:	Analysis of Reverse-Recovery Characteristics of Parallel-Connected pin Diodes Using a Physics-Based Device Model

著者

和文:	杉本貴之, 冨永真志, 漆畑廣明, 藤田英明, 赤木泰文, 木ノ内伸一, 大井健史.
英文:	Takayuki Sugimoto, Shinji Tominaga, Hiroaki Urushibata, Hideaki Fujita, Hirofumi Akagi, Shinichi Kinouchi, Takeshi Oi.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	電気学会産業応用部門大会
英文:	IEEJ Japan Industry Application Society Conference

巻, 号, ページ

Vol. 1 pp. 375-376

出版年月

2010年8月

出版者

和文:	電気学会
英文:	Institute of Electrical Engineering in Japan

会議名称

和文:	産業応用部門大会
英文:	Industry Application Society Conference

開催地

和文:	芝浦工業大学
英文:	Shibaura Institute of Technology