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論文・著書情報


タイトル
和文:TEM-EELS法によるLiMn2O4電極表面の劣化機構解析 
英文: 
著者
和文: 平山雅章, 井戸秀和, Kim Kyungsu, Cho Woosuk, 菅野了次.  
英文: Masaaki Hirayama, Hidekazu Ido, Kyungsu Kim, Woosuk Cho, Ryoji KANNO.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ         3C18
出版年月 2010年11月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:第51回電池討論会 
英文: 
開催地
和文:愛知県名古屋市 
英文: 

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