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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Numerical and Experimental Analysis of Intermittent Line-and-Space Patterns in Thermal Nanoimprint 
著者
和文: 大西 有希, 高木秀樹, Y.Hirai, M, Takahashi, R.Maeda, T.Tanabe, Y.Iriye.  
英文: Y.Onishi, 高木秀樹, Y.Hirai, M, Takahashi, R.Maeda, T.Tanabe, Y.Iriye.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2007年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:20th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC) 
開催地
和文: 
英文: 

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