Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文:Ultrahigh-vacuum third-order spherical aberration (Cs) corrector for a scanning transmission electron microscope 
英文:Ultrahigh-vacuum third-order spherical aberration (Cs) corrector for a scanning transmission electron microscope 
著者
和文: K MITSUISHI, M TAKEGUCHI, Y KONDO, F HOSOKAWA, K OKAMOTO, 三宮工, M HORI, T IWAMA, M KAWAZOE, K FURUYA.  
英文: K MITSUISHI, M TAKEGUCHI, Y KONDO, F HOSOKAWA, K OKAMOTO, Takumi Sannomiya, M HORI, T IWAMA, M KAWAZOE, K FURUYA.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文:MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 
英文:MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 
巻, 号, ページ Vol. 12    No. 6    pp. 456-460
出版年月 2006年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1017/S1431927606060661

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.