Depth analysis of subgap electronic states in amorphous oxide semiconductor, a-In-Ga-Zn-O, studied by hard x-ay photoelectron spectroscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Depth analysis of subgap electronic states in amorphous oxide semiconductor, a_-In_-Ga_-Zn_-O, studied by hard x_-ay photoelectron spectroscopy

著者

和文:	野村研二, 神谷利夫, Eiji Ikenaga, 柳博, Keisuke Kobayashi, 細野秀雄.
英文:	Kenji Nomura, Toshio Kamiya, Eiji Ikenaga, Hiroshi Yanagi, Keisuke Kobayashi, Hideo Hosono.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	JOURNAL OF APPLIED PHYSICS

巻, 号, ページ

Vol. 109 p. 073726

出版年月

2011年

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

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英文: