Characterization of carrier transport in vertically-stacked Si nanowire FETs

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization of carrier transport in vertically-stacked Si nanowire FETs

著者

和文:	舘喜一, 角嶋邦之, 岩井洋, S. Cristoloveanu, T. Ernst.
英文:	Kiichi Tachi, Kuniyuki KAKUSHIMA, HIROSHI IWAI, S. Cristoloveanu, T. Ernst.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2011年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Taiwan-Japan Workshop on “Nano Devices”

開催地

和文:
英文: