Remote-surface-roughness scattering-limited electron, mobility in ultrathin high-k gate stacked MOSFETs

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Remote-surface-roughness scattering-limited electron, mobility in ultrathin high-k gate stacked MOSFETs

著者

和文:	マイマイティマイマイティレャアティ, 角嶋邦之, パールハットアヘメト, 筒井一生, 西山彰, 杉井信之, 名取研二, 岩井洋.
英文:	マイマイティマイマイティレャアティ, Kuniyuki KAKUSHIMA, Ahmet Parhat, KAZUO TSUTSUI, 西山彰, Nobuyuki Sugii, KENJI NATORI, HIROSHI IWAI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2011年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Taiwan-Japan Workshop on “Nano Devices”

開催地

和文:
英文: