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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Annealing Effect on the Electrical Properties of La2O3/InGaAs MOS Capacitors 
著者
和文: 神田高志, ダリューシュザデ, Y. C. Lin, 角嶋邦之, パールハットアヘメト, 筒井一生, 西山彰, 杉井信之, E.Y. Chang, 名取研二, 服部健雄, 岩井洋.  
英文: Takashi Kanda, ダリューシュザデ, Y. C. Lin, Kuniyuki KAKUSHIMA, Ahmet Parhat, KAZUO TSUTSUI, 西山彰, Nobuyuki Sugii, E.Y. Chang, KENJI NATORI, takeo hattori, HIROSHI IWAI.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2011年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:CSTIC2011 
開催地
和文:上海 
英文: 

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