Electrical Characterization of Al2O3 /n-InAs Metal-Oxide-Semiconductor Capacitors With Various Surface Treatments

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Electrical Characterization of Al2O3 /n-InAs Metal-Oxide-Semiconductor Capacitors With Various Surface Treatments

著者

和文:	H.D. Trinh, G. Brammertz, E.Y. Chang, C.I. Kuo, C.Y. Lu, Y.C. Lin, H. Q. Nguyen, Y. Y. Wong, B.T. Tran, 角嶋邦之, 岩井洋.
英文:	H.D. Trinh, G. Brammertz, E.Y. Chang, C.I. Kuo, C.Y. Lu, Y.C. Lin, H. Q. Nguyen, Y. Y. Wong, B.T. Tran, Kuniyuki KAKUSHIMA, HIROSHI IWAI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

巻, 号, ページ

Vol. 32 No. 6

出版年月

2011年6月

出版者

和文:
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会議名称

和文:
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開催地

和文:
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