Insight into the Contact Resistance Problem by Direct Probing of the Potential Drop in Organic Field-Effect Transistors

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Insight into the Contact Resistance Problem by Direct Probing of the Potential Drop in Organic Field-Effect Transistors

著者

和文:	Weis Martin, LIN JACK, 田口大, 間中孝彰, 岩本光正.
英文:	Martin Weis, Jack Lin, Dai Taguchi, Takaaki Manaka, Mitsumasa Iwamoto.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Applied Physics Letters

巻, 号, ページ

Vol. 97 pp. 263304/1-263304/3

出版年月

2010年12月

出版者

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会議名称

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開催地

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DOI