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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Reduction of Access Resistance of InP/InGaAs Composite-Channel MOSFET with A Back Source Electrode
著者
和文:
加藤 淳
,
金澤 徹
,
池田 俊介
,
米内 義晴
,
宮本恭幸
.
英文:
A. Kato
,
T. Kanazawa
,
S. Ikeda
,
Y. Yonai
,
YASUYUKI MIYAMOTO
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
出版年月
2011年9月14日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
2011 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices(AWAD)
開催地
和文:
英文:
Daejeon
公式リンク
http://astl.hongik.ac.kr/awad2011/home.html
©2007
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