Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Charge modulated reflectance topography for probing in-plane carrier distribution in pentacene field-effect transistors 
著者
和文: 間中 孝彰, 川島 啓, 岩本 光正.  
英文: T. Manaka, S. Kawashima, M. Iwamoto.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Appl. Phys. Lett., 
巻, 号, ページ Vol. 97    No. 11    p. 113302
出版年月 2010年8月15日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1063/1.3490716

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.