Effect of Trap Density on Carrier Propagation in Organic Field-Effect Transistors Investigated by Impedance Spectroscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Effect of Trap Density on Carrier Propagation in Organic Field-Effect Transistors Investigated by Impedance Spectroscopy

著者

和文:	LIN JACK, Weis Martin, 田口大, 間中孝彰, 岩本光正.
英文:	Jack Lin, Martin Weis, Dai Taguchi, Takaaki Manaka, Mitsumasa Iwamoto.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Jpn. J. Appl. Phys.

巻, 号, ページ

Vol. 49 No. 1 01AE14

出版年月

2010年1月15日

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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DOI