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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Influence of traps on transient electric field and mobility evaluation in organic field-effect transistors 
著者
和文: 間中 孝彰, Fei Liu, Weis Martin, 岩本 光正.  
英文: Takaaki Manaka, Fei Liu, Martin Weis, Mitsumasa Iwamoto.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:J. Appl. Phys. 
巻, 号, ページ Vol. 107    No. 4    43712
出版年月 2010年4月15日 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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DOI https://doi.org/10.1063/1.3285503

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