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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Influence of traps on transient electric field and mobility evaluation in organic field-effect transistors
著者
和文:
間中 孝彰
,
Fei Liu
,
Weis Martin
,
岩本 光正
.
英文:
Takaaki Manaka
,
Fei Liu
,
Martin Weis
,
Mitsumasa Iwamoto
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
J. Appl. Phys.
巻, 号, ページ
Vol. 107 No. 4 43712
出版年月
2010年4月15日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
DOI
https://doi.org/10.1063/1.3285503
©2007
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