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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Bias stability for a-In-Ga-Zn-O-TFTs: Origin of threshold voltage instability and the role of thermal annealing and passivation 
著者
和文: 野村 研二, 神谷 利夫, 細野 秀雄.  
英文: Kenji Nomura, Toshio Kamiya, Hideo Hosono.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Proc. IDW'11 
巻, 号, ページ         pp. 587-590
出版年月 2011年 
出版者
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会議名称
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開催地
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