Direct probing of selective electron and hole accumulation processes along the channel of an ambipolar double-layer field-effect transistor by optical modulation spectroscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Direct probing of selective electron and hole accumulation processes along the channel of an ambipolar double-layer field-effect transistor by optical modulation spectroscopy

著者

和文:	張楽, 田口大, 間中孝彰, 岩本光正.
英文:	Le Zhang, Dai Taguchi, Takaaki Manaka, Mitsumasa Iwamoto.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Applied Physics Letters

巻, 号, ページ

Vol. 100 pp. 103301/1-103301/4

出版年月

2012年3月1日

出版者

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会議名称

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開催地

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DOI